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更新日期：2024-03-22
簡要描述：
日本nanocoat表面清潔度檢查設(shè)備coronasurf利用振動(dòng)電容法（開爾文探針）對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進(jìn)行非接觸測量，定量測定金屬等基材表面的污染程度評估。
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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日本nanocoat表面清潔度檢查設(shè)備coronasurf
利用振動(dòng)電容法（開爾文探針）對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進(jìn)行非接觸測量，定量測定金屬等基材表面的污染程度評估。
測量可以在幾分鐘內(nèi)完成，因此它不僅可以用于清潔工藝開發(fā)，還可以用于生產(chǎn)線上零件的表面清潔度控制。
由于表面電位衰減曲線取決于薄膜的電性能和膜厚，因此也可用于控制絕緣體薄膜的厚度、金屬表面氧化層的厚度以及DLC薄膜的質(zhì)量控制。
| 測量探頭直徑 | φ6.35mm |
| 測量距離 | 1-3mm（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 表面電位測量范圍 | ±100V直流 |
| 表面電位分辨率 | 1毫伏 |
| 電暈放電電壓 | 最大10kV |
| 測量頭 (WxDxH) | 118x106x150（毫米） |
| 控制器（寬 x 深 x 高） | 343x296x134（毫米） |
| 表面電位測量電源（WxDxH） | 223x370x108(毫米) |
| 筆記本電腦 | - |
| 噴墨打印機(jī) | - |
日本nanocoat表面清潔度檢查設(shè)備coronasurf
測定原理
將鍍金電極（直徑約 6mm）在距測量表面幾毫米的距離處振動(dòng)，通過振動(dòng)電容法測量表面電位。
振動(dòng)電極稱為開爾文探針。
首先，測量測量表面的初始電位 Vi。初始電位基本上取決于測量表面金屬的元素（標(biāo)準(zhǔn)氧化還原電位、反應(yīng)層等）。
測量初始電位 Vi 后，電暈放電頭移動(dòng)到測量面前方，向針電極施加數(shù) kV 的高壓，在大氣中產(chǎn)生電暈放電。正離子從放電電離的等離子體中通過柵格提供給樣品表面。通過調(diào)整樣品電流和放電暴露時(shí)間來控制電荷量。這類似于復(fù)印機(jī)粘附碳粉的原理。
電暈放電完成充電后，開爾文探針再次移動(dòng)到測量表面前面，并在給定的過渡時(shí)間內(nèi)測量表面電勢 V(t)。正電荷轉(zhuǎn)移導(dǎo)致的表面電勢偏移 dV0 對于干凈的金屬表面為負(fù)，對于絕緣污垢和氧化層為正（見圖 1）。對于數(shù)據(jù)分析，使用表面電位圖（見圖 2），X 軸為表面電位偏移 dV0，Y 軸為初始表面電位 Vi。
(圖一)銅板(φ30x1mmt)表面電位躍遷曲線Vi：初始表面電位
V(0)：施加電荷后立即的表面電位
Vend：最終表面電位
表面電位偏移 dV0 = V(0) - Vi
表面電位變化 dV = Vend - V(0)
=（圖2）銅板表面電位圖（φ30 x 1mmt）在圖 1 銅的例子中，用臟丙酮清洗的樣品表面有污染層，因此電暈放電賦予的正電荷不會(huì)立即泄漏，因此 V(0) 向正側(cè)移動(dòng)，然后逐漸衰減回 Vi。