非接觸式熱物性(熱擴(kuò)散率)測量裝置 TA35型的原理分析
熱物性測量裝置 熱波分析儀
TA35型
[特點(diǎn)]
?非接觸式測量,不受接觸(熱)電阻的影響
?測量范圍寬~從有機(jī)薄膜到金剛石?
?單個裝置可測量水平(XY)和垂直(Z)方向
?垂直(Z ))方向映射測量
(1) 周期性加熱源 (P0eiωt) 以熱擴(kuò)散率 α 對樣品表面進(jìn)行點(diǎn)加熱
(2) 加熱點(diǎn)溫度的交流分量表示為 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加熱源。 (P0eiωt) 置于周圍區(qū)域,激發(fā)溫度傳播可以用以下公式表示。
(4) c:單位體積比熱容,?:距點(diǎn)熱源的距離
k 為溫度波的波數(shù),用下式表示:
(5) 式中μ為熱擴(kuò)散長度。因此,相位變?yōu)橐韵碌仁健?/span>
熱波分析儀 TA 可滿足客戶開發(fā)現(xiàn)場的需求。
由于無需將測量樣品的形狀與設(shè)備相匹配,因此可以顯著減少樣品制備的工作量和成本。
垂直測量/水平測量
<應(yīng)用>
電子元件散熱材料的評價
半導(dǎo)體激光電極的評價
發(fā)熱材料的評價
硬質(zhì)合金工具涂層的評價等
你了解各向異性嗎?樹脂與各種填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的復(fù)合材料的熱導(dǎo)率
根據(jù)混合比例的不同而發(fā)生很大變化,因此測量熱擴(kuò)散率非常重要。
該設(shè)備可以對同一工件和樣品同時進(jìn)行三個方向(X、Y和Z)的連續(xù)測量,非常適合測量想要了解各向異性的樣品。 可用于
測量電子電路中使用的散熱片、碳纖維增強(qiáng)樹脂、高熱電樹脂、聚酰亞胺片等各種樣品。
測量目標(biāo) 測量結(jié)果
層壓材料是由具有不同導(dǎo)熱系數(shù)的材料分層制成的,因此預(yù)計傳熱將根據(jù)粘合的均勻性而發(fā)生很大變化。
然而,傳統(tǒng)上精確測量層壓材料的導(dǎo)熱率極其困難,這使其成為開發(fā)過程中的問題之一。
該裝置連續(xù)獲取并繪制垂直相位延遲,從而可以相對評估層壓材料的熱傳導(dǎo)。
它不僅適用于材料熱物理性質(zhì)的相對評估,而且適用于檢查零件的缺陷和檢查均勻性。
測量目標(biāo) 測量結(jié)果
熱導(dǎo)率分布評價(定性值) *可以將熱導(dǎo)率的均勻程度繪制成圖表。